1、顆粒
顆粒其實就是微小的物體，是組成物體的能獨立存在的基本單元，宏觀很小，但微觀仍包含了的物質分子。廣義說來，空氣中的霧滴，水中的氣泡，乳濁液中的油滴也可看作是顆粒。
2、顆粒體系
顆粒能夠存在基本條件在于顆粒的周圍還存在另一種介質，形成2種相，2相界面的存在才是顆粒存在的必要條件。
3、顆粒大小
顆粒大小對顆粒的性質影響很大。以水泥為例，細水泥粉末水化變硬的速度快于粗水泥粉末。原因在于細粉顆粒小，與周圍介質（水）接觸的表面積大，表面的分子多，因此活性就大，，與周圍介質發生化學反應度速度也越快。顆粒越小，表面分子的比例越大，因此化學活性就越強。因此顆粒大小越來越受到關注也是必然的。
4．顆粒粒徑的定義
顆粒大小通稱顆粒粒度，對球形顆粒來說應稱為粒徑。由于顆粒形狀通常不是球體，難以用一個尺度來表示，于是不得不采用等效粒徑的概念。
如等效體積粒徑即是與此顆粒體積相等的同質球體的直徑；
等效表面積粒徑即與此顆粒表面積相等的同質球體的直徑；
沉降粒徑即與此顆粒沉降速度相等的同質球體的直徑；
篩分粒徑即恰能通過此顆粒的篩孔的尺寸。
由以上所述可以看出，顆粒大小這一概念并不簡單。對于非球形顆粒而言，使用不同的測量方法得到的等效粒徑的意義不同，測得的結果也會存在差異。
5、標準顆粒
用以檢驗粒度儀的標準顆粒物質為什么必須用球形顆粒？根據顆粒粒徑的定義我們知道只有球形顆粒才會有*的粒徑，也就是用任何原理和方法測得的粒徑都相同。非球形顆粒用不同原理的儀器測試則不會獲得一致的結果，不會有*的粒徑，所以不能用作標準物質。
6．怎樣表示顆粒群體的粒度大?。?/span>
由同一粒徑顆粒組成的顆粒群稱為單分散顆粒群。實際上單分散顆粒群是極少的。顆粒群體通常由大小不同的顆粒組成。以粒度為橫坐標，以顆粒單位粒徑寬度內的顆粒含量（體積含量、個數含量、表面積含量等）為縱坐標，繪出的曲線稱為粒度分布曲線（又稱頻率分布）。如果縱坐標采用某一粒度下顆粒的累積含量則繪出的曲線稱為累積分布曲線（又稱積分分布）。需要注意的顆粒含量有多種不同的意義，它們之間差別很大。常用的是體積含量，因此稱為體積粒度分布曲線。
為了更簡單地描述顆粒的粒度分布，常選取累積分布曲線上的3個點描述顆粒群的分布特征，如D50,D10,D90,它們分別表示累積分布為50%，10%和90%的粒徑大小。單位為微米。其中D50又常被稱為中值粒徑（中位徑）用途廣。平均徑，比表面積，或其他統計粒徑也可以表示顆粒群體的大小分布特征。使用以上粒徑是還需注意顆粒含量的基準是體積還是個數抑或是其他計量單位。
7．粒度分布函數
有些顆粒群體粒度分布服從一定特殊規律，可以用數學函數描述顆粒含量隨顆粒大小的變化關系，這些即粒度分布函數。如正態分布,對數正態分布，羅辛．拉母勒分布(Rosin-Rammler)等等.。
8．通常說我的樣品通過多少“目"篩，目是什么意思？
目是表示篩孔大小的一種方法，篩網每英寸有多少孔稱為多少目。目數越大篩孔越小。各國的篩孔規格有不同的標準，因此“目"的含義也不相同。附工程技術篩孔尺寸對照表。工程技術篩孔尺寸對照表

9．顆粒大小分類

同行業有不同的分類方法。一般而言，顆粒按大小可分為納米顆粒；超微顆粒（亞微米）；微粒，細粒，粗粒，比粗粒大的則稱為“塊"而不稱為“粒"了。

10．測定顆粒大小常用方法
測定顆粒大小的方法很多。常用的有顯微鏡，篩分，重力沉降，離心沉降，電阻計數（庫爾特），激光衍射/散射，電鏡，超聲，bet法，透氣法等。
11、 測定顆粒大小的常用方法的比較
１．篩分  原理：依賴篩孔大小的機械分離作用。優點是簡單直觀。動態范圍較小，常用于大于４０μm的顆粒測定。 缺點：速度慢，一次只能測量一個篩余值，不足以反映粒度分布；微小篩孔制作困難；誤差大，通常達到10%-20%；小顆粒由于團聚作用通過篩孔困難；有人為誤差，導致可信度下降。
2．沉降  原理：斯托克斯定律。缺點：動態范圍窄；小粒子沉降速度很慢，對非球型粒子誤差大；由于密度一致性差，不適用于混合物料；重力沉降儀適用于10微米以上的粉體，如果顆粒很細則需要離心沉降。
3．庫爾特電阻法  原理：顆粒通過小孔時產生的電阻脈沖計數。優點：可以測定顆粒總數，等效概念明確；操作簡便。缺點：動態范圍小，1：20左右；對介質的電性能有嚴格要求；容易出現堵塞小孔現象。
4．顯微鏡法  原理：光學成像。優點：簡單直觀；可作形貌分析。缺點：動態范圍窄，1：20；測量時間長，約20分鐘；樣品制備操作較復雜；采樣的代表性差；對超細顆粒分散有一定的難度，受衍射極限的限制，無法檢測超細顆粒。
5．電鏡  原理：電子成像。優點：直觀；分辨率高。缺點：取樣量少，沒有代表性，樣品制備操作復雜；儀器價格昂貴。
6．激光粒度儀  原理：激光衍射／散射。優點：測量速度快，約1分鐘；動態范圍大，約1：1000以上；重復性好；度高，分辨率高；操作簡便；可對動態顆粒群進行跟蹤測試分析，是目前的粒度儀，在很多場合可替代其他測量方法，是粒度儀發展的方向。

PSS*的單顆粒（SPOS)技術，能對樣品的顆粒數目進行量化， 打破了科技界以往通過光散射和光衍射方法只能檢測均粒徑分布的局限，不僅能檢測顆粒大小，更能 對顆粒進行計數。這給了研究、生產和質控人員對樣品中顆粒的大小、數目一個清晰明了的結果，大 大助力于其研發和生產。

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